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| PCIM Asia 2023开展ing！来现场交个“芯”朋友？ |
| 作者：admin 来源：原创 发布日期：2023-8-29 13:58:24 点击次数:500 |
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2023年PCIM Asia国际电力元件、可再生能源管理展览会已于2023年8月29日，在上海新国际博览中心正式开幕！
展会介绍 • 专注电力电子领域的国际展览会及研讨会之一，立足行业二十余载 • 展示电力电子、智能运动、可再生能源及能源管理前沿技术产品及案例分享 • 国际研讨会发表国内外最新学术成果，深入探讨电力电子行业技术发展趋势 • 多个主题专区聚焦电力电子关键应用领域的解决方案 泰克携重量级半导体参数测试系统及模拟芯片全栈式测试解决方案亮相PCIM Asia 2023，诚邀各位工程师来现场交个“芯”朋友，助您更懂您的“芯”~ 重量级半导体参数测试系统继慕尼黑电子展后再度亮相！ 半导体功率器件动态特性测试系统 DPT1000A功率器件动态测试系统由泰克科技领衔开发，专门用于针对三代半导体功率器件的动态特性分析测试，旨在解决客户在功率器件动态特性表征中常见的疑难问题，包括如何设计高速工作的驱动电路，如何适配多种芯片封装形式，如何选择和连接探头进行信号测试，如何优化和抑制测试过程中的噪声和干扰。帮助客户在研发设计和试产阶段，快速评估器件性能，更快应对市场需求改善产品性能。 系统主要特点 ▪ 定制化系统设计 , 丰富的硬件配置和高灵活性的驱动电路 ▪ 自动化测试软件，测试功能丰富 , 可以自动配置参数，测试和生成数据报告 ▪ 高带宽/高分辨率测试设备 , 在高速开关条件下准确表征功率器件 ▪ 覆盖高压、中压、低压、pmos、GaN 等不同类型，不同封装芯片测试 ▪ 可以提供单脉冲、双脉冲、反向恢复、Qg、短路测试、雪崩参数、RBSOA等测试功能 动静态综合老化测试系统 ▪ HTXB-1000D动静态综合老化测试系统针对以 SiC/GaN 为首的新型三代半导体功率器件，根据其特有的器件结构和失效机理，在加速老化条件下，有针对性的施加特定压力条件 ( 包括静态压力和动态压力 )，用以测试功率器件器件的漏流指标，以及其他典型特性参数 ( 例如阈值开启电压，导通电阻等关键指标 )，以表征器件的老化特性和工作寿命。可以让器件生产厂商和器件使用者在较短时间内了解新型功率器件的老化特性，以及长期使用条件下的性能变化，为器件实际应用过程中可能出现的故障进行预判和分析。 ▪ 该动静态压力综合老化测试系统用于批量 SiC/GaN器件老化测试，通过测试数据可以研究SiC/GaN器件的典型参数在不同压力条件下的变化特性，帮助客户了解器件可靠性相关信息并表征老化特性。 模拟芯片流程全栈式测试方案 芯片从晶圆到封装为终端客户使用的过程中，不同职能工程师会在各个阶段进行不同的测试，确保产品的安全性，稳定性和可靠性。泰克科技致力于提供卓越的测试解决方案助力模拟芯片全流程的测试测量需求。 隔离驱动芯片测试 时序及抖动测试 CMTI测试 DC-DC芯片测试 包括多相均流时序验证、极小纹波时频域验证、电源抑制比验证（PSRR）、PSIJ等。 电源抑制比验证（PSRR） AC-DC芯片测试 电驱及逆变测试 更多芯片测试方案待您解锁， 期待您莅临现场技术交流！ |
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